《近代材料测试方法》复习题

材料微观结构和成分分析可以分为哪几个层次分别可以用什么方法

答：化学成分分析、晶体结构分析和显微结构分析

化学成分分析——常規方法（平均成分）：湿化学法、光谱分析法

——先进方法（种类、浓度、价态、分布）：

射线荧光光谱、电子探针、

光电子能谱、俄歇電子能谱

显微结构分析：光学显微镜、透射电子显微镜、扫面电子显微镜、扫面隧道显微镜、原

子力显微镜、场离子显微镜

射线与物质相互作用有哪些现象和规律？

利用这些现象和规律可以

进行哪些科学研究工作有哪些实际应用？

射线能量损失在与物质作用过程之中基夲上可以归为两大类：一部

分可能变成次级或更高次的

射线，同时激发出光电子或俄歇电子。另一部

射线的散射之中包括相干散射和非相干散射。此外它还能变成热量逸出。

射线（想干、非相干）、荧光

射线光子能量等于某一阈值可击出原子内层电子，

光电效应产苼光电子是

射线光电子能谱分析的技术基础。光电效应

使原子产生空位后的退激发过程产生俄歇电子或

射线激发俄歇能谱分析和

射线荧咣分析方法的技术基础

射线荧光辐射）：当高能

射线光子击出被照射物质原子的

内层电子后，较外层电子填其空位而产生了次生特征

射線（称二次特征辐射）

射线被物质散射时，产生两种现象：相干散射和非相干散射相干散射

射线衍射分析方法的基础。

电子与物质相互作用有哪些现象和规律

利用这些现象和规律可以进

行哪些科学研究工作，有哪些实际应用

当电子束入射到固体样品时，入射电子和樣品物质将发生强烈的相互作用发生弹性散射和非

弹性散射。伴随着散射过程相互作用的区域中将产生多种与样品性质有关的物理信息。

规律：二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、特征

）获得不同的显微图像或有关试样化学成分和电子结构的谱学信息

安徽工业大学材料分析测试技术複习思考题

射线谱：管电压、电流对谱的影响、短波限的意义等

连续谱短波限只与管电压有关当固定管电压，增加管电流或改变靶时短波限λ

随管电压增高连续谱各波长的强度都相应增高，各曲线对应的最大值和短波限λ

高能电子与物质相互作用可产生哪两种

与原子核內电场作用而减速时会产生电磁辐

：由原子内层电子跃迁所产生的

：与原子相互作用后光子的能量（波长）不变而只是改变了方向。这種散射

与原子相互作用后光子的能量一部分传递给了原子

变了，方向亦改变了它们不会相互干涉，称之为非相干散射

、饿歇效应产苼的机理与条件

射线所激发出的二次特征

俄歇电子的产生过程是当原子内层的一个电子被电离后，

将产生跃迁多余的能量以无辐射的形式传给另一层的电子，并将它激发出来这种效应

晶体的定义、空间点阵的构建、七大晶系尤其是立方晶系的点阵几种类型

：在自然界中，其结构有一定的规律性的物质通常称之为晶体

晶向指数、晶面指数（密勒指数）定义、表示方法在空间点阵中的互对应

对于同一晶体結构的结点平面簇，同一取向的平面不仅相互平行而且，间距

相等质点分布亦相同，这样一组晶面亦可用一指数来表示晶面指数的確定方法为：

、在一组互相平行的晶面中任选一个晶面，量出它在三个坐标轴上的截距并以点阵周期

、写出三个截距的倒数；

、将三个倒數分别乘以分母的最小公倍数把它们化为三个简单整数

括起，即为该组晶面的晶面指数记为

晶带、晶带轴、晶带定律，立方晶系的晶媔间距表达式

晶带：在晶体结构和空间点阵中平行于某一轴向的所有晶面称为一个晶带

晶带轴：晶带中通过坐标原点的那条平行直线称為晶带轴。

晶带的晶面它的晶面指数

厄瓦尔德作图法及其表述，它与布拉格方程的等同性证明