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在目前，比较通行且实用的调查、计算设备能力的办法和过程（工序）能力调查方法一样，都是通过其产品质量特性值的分布来衡量的，设备能力值可以用6σm来表示，而由于设备能力仅与设备本身有关，其产品质量的散差分布较小，即σm&σ,一般取σm=3/4σ，对此我们可以导出设备能力指数公式为：Cmk=T/8σm(T为公差值），同过程能力指数计算一样，可按双向公差、无偏差分布；双向公差、有偏差分布；和单向公差（上下）四种情况来计算。在能力判断和处置上，通常和对过程能力的判定和处置结合起来进行，一般，Cpm&1，则认为设备能力充足，当Cmk&1时，则认为设备能力不足，应采取措施提高Cmk值，σm的估计值可以从抽取平均样本的标准差（S)求出。
只是一种量化的度量单位来衡量过程的好坏而已。
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关于CMK的问题
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我们在做CMK抽样
连续抽检50个样本6 t* n3 Z* W& q+ u$ S5 p, e9 K" F- z' W
需要分组嘛？
难得就直接用STDEV把50个样本的西格玛算出来( }# q9 {9 x6 f5 x" v4 t
，还有就是我厂的产品，机器生产出来有很多个尺寸，是不是只要测量其中的一个尺寸，总共得出50个尺寸就可以进行CMK的计算了？: K* h' L7 B&&Z2 y
帮帮我谢谢大哥们0 M' c6 d4 |4 p: s
[ 本帖最后由 YHHL 于
17:38 编辑 ]
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:ang: :ang:
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使用任何数据，然后再套用公式，都可得出计算结果，问题是这样没有任何意义。
8 @: L&&d- P) Y8 S$ o: Z
首先，你的抽样有问题，没有考虑过如何抽样。一般情况下，每次连续抽4-5样本为一组，取20-30组数据（一般要求不少于100个数据）。% }8 |" ?3 h8 a& B( @3 l. \0 N$ g7 u
其次，计算Cmk时不用STDEV，要用R/d2.
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测CMK当然只能针对一个尺寸做CMK,举例，这台设备做跳动可能cmk比较高，但不代表圆度的CMK也一样好。
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没有搞清楚就乱回答，CMK不用分组，针对于特殊特性做。
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首先应该搞清楚Cmk到底是什么。
如果真的理解了能力指数和性能指数的区别，就知道到底有没有乱说。
如果对基本概念都理解不清的话，还是别误导人家的好！
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原帖由 svw0936 于
10:02 发表 &&X1 T/ Q* x&&M8 a
首先应该搞清楚Cmk到底是什么。
如果真的理解了能力指数和性能指数的区别，就知道到底有没有乱说。; f: @- {& T6 N& s8 u
如果对基本概念都理解不清的话，还是别误导人家的好！ % w8 I! k) ?$ S6 @8 x
提醒你一下，CMK是设备能力指数，不是什么能力指数和性能指数，你确实需要先理解基本概念。
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做CMK的原理同CPK的原理是大同小异,分组也是差不多的,正如楼上所说,最好为100组以上的数据,如果只是测量50个产品,就不能算是过程控制了,是初始过程分析.
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原帖由 hansenyi 于
21:21 发表
做CMK的原理同CPK的原理是大同小异,分组也是差不多的,正如楼上所说,最好为100组以上的数据,如果只是测量50个产品,就不能算是过程控制了,是初始过程分析.
又一个基本概念不清楚者！
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何时应用Cmk指数1 b&&R: `8 N' B! I6 l" e
　　新机器验收时1 {. m" C- i5 Z# a5 U' f
　　机器大修后
　　新产品试制时1 O5 a3 J/ b& }# p7 m0 y
　　产品不合格追查原因时
　　在机械厂应和模具结合在一起考虑
　　Case study9 w6 K&&V' d2 j
　　WHAT IS MOTOROLA’S 6σ) r2 t7 D/ {$ q, S: P) N5 ~1 m
　　Normal Distribution-Gaussian Curve
　　A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：
　　Case study- |" L1 J&&P% v* P
　　Case study
　　请计算出上表的X-s控制图的控制限？
　　请判定过程是否稳定？2 I' ?* z, o) i) p# f: c
　　如果是不稳定该如何处理？
　　如果制程假设已稳定，但想将抽样数自n=4调为n=5时，那么其新控制限为何？
　　B计算控制限
　　Case study
　　Case study
　　不良和缺陷的说明/ y8 B/ p. }9 R5 j/ R& m! J& c" ]4 ~
　　P控制图的制做流程9 L- z0 s8 ^' l/ }
　　A1子组容量、频率、数量* R- F9 q% B" T1 h. ]
　　子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50~200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。
　　分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾 - Y6 x4 v7 Q&&n) L; F+ j
aliqq! i/ n9 q3 J# ^&&d2 ?+ x
　　子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。
　　A2计算每个子组内的不合格品率
　　记录每个子组内的下列值
　　被检项目的数量─n/ F+ C; i" y/ u0 i
　　发现的不合格项目的数量─np0 g&&|8 p( g5 O$ o5 P; P0 {
　　通过这些数据计算不合格品率
　　A3选择控制图的坐标刻度&&L, ^7 n: q5 n. y' s
　　描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。
　　A4将不合格品率描绘在控制图上
　　描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。
　　当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。
　　记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。3 _9 n, i$ h" c0 y5 I* n
　　计算平均不合格率及控制限
　　画线并标注' ]3 |/ p8 N8 x8 v) L
　　均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。) x2 t$ {- }3 h7 a, G
　　控制限用水平虚线：一般为红色虚线。1 ~: \0 I1 m1 A0 P
　　尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：
　　分析数据点，找出不稳定的证据
　　点. r1 X5 ?" ^8 U&&{
　　线! k. f/ J&&b. Q
　　以上三种方式做判定。 aliqq
　　寻找并纠正特殊原因
　　当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。
　　控制图的实时性
　　重新计算控制限
　　当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。
　　一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。3 w7 m8 W- y9 f
　　控制限运用说明; z! U7 K- s$ N8 x7 O( |% R
　　过程能力解释
　　计算过程能力
　　对于p图，过程能是通过过程平均不合率来表，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例（1-p）来表示。$ p! _9 y0 }1 e2 u
　　对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。
　　当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn
　　评价过程能力
　　改善过程能力! ^- x) W* L' B& ~5 r/ E
　 　过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因（控制）变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。
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计算Cmk或者Cpk的过程就是初始能力分析过程的一个步骤而已。过程稳定了，没有必要再去计算，除非：
1、过程不稳定，需要重新分析0 [& _: m+ B+ t
2、影响过程的因素（人机料法环测）发生了变化+ t& A0 l# K; `& \
3、定期分析（一般为每年一次）
5 Z3 W1 O9 A2 M4 O
不管机器能力指数也好，还是过程能力也好，都是能力指数的一种。既然是能力指数，肯定是需要排除特殊原因的影响的，特殊原因的影响，就体现在子组间的变差大小，所以计算能力指数就必须排除子组间的变差。) f1 [/ R. ^! H
- {2 b9 t" R/ N( B" U. ~2 a$ i
不分组的话，肯定是没有排除特殊原因的影响了，用总变差（子组内变差+子组间变差）得出来的指数，能称之为能力指数吗？能用来预测吗？
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原帖由 svw0936 于
16:08 发表
计算Cmk或者Cpk的过程就是初始能力分析过程的一个步骤而已。过程稳定了，没有必要再去计算，除非：; v6 Q&&l/ t, T2 L
1、过程不稳定，需要重新分析; L6 ~3 W& q4 z: i& t+ B
2、影响过程的因素（人机料法环测）发生了变化( N: A" x% N; A7 L$ v&&L3 L" T( E
3、定期分析（一般为每年一次）& C1 O1 D( e5 ~+ x" f
... ' G% _+ h0 F+ v" T' u
你完全没有搞懂CMK与CPK的区别，再给你解释一下，分组是为了衡量过程综合因素随时间变化的情况，不分组是为了衡量某个单一因素的影响大小。
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原帖由 jhlafr 于
20:50 发表 + S# t# K$ U2 o$ V$ ~
你完全没有搞懂CMK与CPK的区别，再给你解释一下，分组是为了衡量过程综合因素随时间变化的情况，不分组是为了衡量某个单一因素的影响大小。 1 N* L% ~& W7 G, F& q! p$ A
我孤陋寡闻了，头一次听说“分组是为了衡量过程综合因素随时间变化的情况，不分组是为了衡量某个单一因素的影响大小”。
我只知道分组的目的，是为了比较子组内变差和子组间变差，以此来检验是否存在特殊原因，验证稳定性的。
如果不分组的话，那前提只有一个，就是知道已经处于稳定状态了。
如果能够证明已经处于稳定状态，换句话说，子组间变差为零。分不分组无所谓，得出来的结果都是一样的。
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CMK和CPK的不同
我有更好的答案
CPK：强调的是过程固有变差和实际固有的能力；CMK：考虑短期离散，强调设备本身因素对质量的影响；CPK：分析前提是数据服从正态分布，且过程受控；(基于该前提，CPK一定&0) CMK：用于新机验收时、新产品试制时、设备大修后等情况；CPK：至少1.33 CMK：至少1.67CMK：一般在机器生产稳定后约一小时内抽样10组50样本CPK：在过程稳定受控情况下适当频率抽25组至少100个样本。CMK：是德国汽车行业常采用的参数，称为临界机器能力指数，它仅考虑设备本身的影响，同时考虑分布的平均值与规范中心值的偏移；由于仅考虑设备本身的影响，因此在采样时对其他因素要严加控制，尽量避免其他因素的干扰，计算公式与PPK相同，只是取样不同CP(或CPK)：工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。这里所指的工序，是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程，也就是产品质量的生产过程。产品质量就是工序中的各个质量因素所起作用的综合表现
采纳率：98%
CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制成能力的指标。CPK值越大表示品质越佳。CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s）） Cpk——过程能力指数CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s] Cpk应用讲议 1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。 2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp. Ca: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。 3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势) 4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。 5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。 6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。 7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差＝规格上限－规格下限；规格中心值＝（规格上限+规格下限）/2； 8. 依据公式： ， 计算出制程准确度：Ca值 9. 依据公式：Cp = ， 计算出制程精密度：Cp值 10. 依据公式：Cpk=Cp ， 计算出制程能力指数：Cpk值 11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低 A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之 A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级 B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级 C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力 D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp（Capability Indies of Process）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为： Pp（Performance Indies of Process）：过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达式为：
（该指数仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序）CPU：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限，一般表达式为：CPL：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达式为：2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk：这是考虑到过程中心的能力（修正）指数，定义为CPU与CPL的最小值。它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。即：Ppk：这是考虑到过程中心的性能（修正）指数，定义为： 或 的最小值。即：其实，公式中的K是定义分布中心μ与公差中心M的偏离度，μ与M的偏离为ε=| M-μ|3、公式中标准差的不同含义①在Cp、Cpk中，计算的是稳定过程的能力，稳定过程中过程变差仅由普通原因引起，公式中的标准差可以通过控制图中的样本平均极差估计得出。因此，Cp、Cpk一般与控制图一起使用，首先利用控制图判断过程是否受控，如果过程不受控，要采取措施改善过程，使过程处于受控状态。确保过程受控后，再计算Cp、Cpk。②由于普通和特殊两种原因所造成的变差，可以用样本标准差S来估计，过程性能指数的计算使用该标准差。4、几个指数的比较与说明① 无偏离的Cp表示过程加工的均匀性（稳定性），即“质量能力”，Cp越大，这质量特性的分布越“苗条”，质量能力越强；而有偏离的Cpk表示过程中心μ与公差中心M的偏离情况，Cpk越大，二者的偏离越小，也即过程中心对公差中心越“瞄准”。使过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果。Cp与Cpk的着重点不同，需要同时加以考虑。② Pp和Ppk的关系参照上面。③ 关于Cpk与Ppk的关系，这里引用QS9000中PPAP手册中的一句话：“当可能得到历史的数据或有足够的初始数据来绘制控制图时（至少100个个体样本），可以在过程稳定时计算Cpk。对于输出满足规格要求且呈可预测图形的长期不稳定过程，应该使用Ppk。”“所谓PPK，是进入大批量生产前，对小批生产的能力评价，一般要求≥1.67；而CPK，是进入大批量生产后，为保证批量生产下的产品的品质状况不至于下降，且为保证与小批生产具有同样的控制能力，所进行的生产能力的评价，一般要求≥1.33；一般来说，CPK需要借助PPK的控制界限来作控制。… …PPK是短期过程能力，即初始过程能力，一般是在初期时确认过程是否稳定，如果大于1.67即可转入长期过程能力管理CPK，至于CMK的计算方法是与PPK一样的，前提是将模具与设备作为一个整体，即必须使用合格的模具，以排除设备以外因素的影响..查看工具栏
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