点击联系发帖人PCB 作为电子系统的载体承载着系統中的工作芯片，传输线供电网络等关键部件，其本身的质量关系着系统的可靠性与稳定性
随着高速电子产品越来越小型话，SI信号完整性问题越来越突出因此在产品开发阶段就要考虑SI问题。S参数全称是散射参数（Scatter Parameters 或者S-Parameter）能够反映信号的反射、阻抗匹配、信号的传输特性以及信号的串扰情况等，利用S参数能够很好的反映信号完整性情况
本文主要介绍如何使用ANSYS SIwave进行S参数的分析及相应的设计修改。
(3)模型嘚有效性检查与修正
ANSYS SIwave在Import菜单下可导入多种格式的文件进行建模：
在SIwave的界面下可以非常方便的查看和设置PCB叠层结构：
Layer Stack-up editor:可以设置每一层的材料、厚度、电导率、介电常数等
1.3模型的有效性检查和修正
在Simulation 菜单下选择Validation Check进行有效性检查，当显示错误数为零时可进行仿真分析：
可以查看已设置的端口：
设置求解频率，进行仿真求解：
可以在Result菜单下查看也可导入到电子设计桌面下查看
为了降低临近线路间的串扰，可以適当加宽相邻traces间的距离来降低串扰
用鼠标左键点击trace，高亮显示再次左键点击，trace中显示拐角的连接点拖拽到目标点点击左键，可以修妀走线路径如下图所示：
修改后运行仿真可再次查看结果：
本文展示了使用ANSYS SIwave进行S参数分析的基本流程，以及如何在SIwave中进行
trace路径的修改減少了从CAD设计-CAE仿真-CAD修改-CAE仿真的过程，节约时间操作方便。
