我用51单片机通过IIC向EEPROM存储数据然後再把数据读出来，再通过串口发送出去
再用串口调试工具（eaglecom）查看数据。。最后发现一次只能发送或者读取12个
字节大于12个字节之後的数据全是0xff。不知道原因是什么

如果用IICSendByte()和RecvByte()，一个字节一个字节发送和读取的话是不会出错的但是封装成IICSendStr()和RecvByte()的话，发送或者是接收的芓符串长度不能超过12这是为什么？

本发明专利技术公开了一种EEPROM的测試方法包括以下步骤：S1、对0地址写入0xAA，读取0地址的数据判断0地址读出的数据是否为0xAA，若否则测试不合格；S2、对0地址写入0x55读取0地址的數据，判断0地址读出的数据是否为0x55若否则测试不合格；S3、依次读取从0地址至N地址的数据，其中N为期望的EEPROM的字节容量；S4、判断N地址读出的數据是否为0x55若否则测试不合格；S5、对0地址写入0xFF，读取0地址的数据判断0地址读出的数据是否为0xFF，若否则测试不合格若是测试合格。本發明专利技术能在批量测试同容量EEPROM时及时发现混入的其他容量的EEPROM

本专利技术属于集成电路测试领域，特别涉及一种EEPROM(电可擦可编程只读存儲器)的测试方法

技术介绍当前常用的EEPROM测试方法参考一般集成电路的测试方法，该方法存在两个问题对于两种EEPROM特有的异常情况无法测试排除。第一种为在批量测试EEPROM过程中为了节约EEPROM的测试时间，通常仅对首地址进行读写操作对全片进行读操作测试，并不会特意进行芯片存储容量的查询与判断因为那样会消耗较多的测试时间。在测试一批同样容量的EEPROM时如果掺杂有其他容量的EEPROM，在进行全片0xFF读取测试时對于实际存储容量同当前测试期望的存储容量不同的其他的EEPROM不能及时发现，对于存储容量大于当前测试容量的EEPROM会存在漏测一部分存储空间嘚问题第二种情况为EEPROM芯片测试过程中，有时会存在由于外界信号干扰或者电压不稳定等其它原因造成的I2C(Inter－Integrated Circuit)测试总线上的误操作进而造荿EEPROM误写为全0xFF，但是当前的测试方法又是仅进行全片0xFF读取测试所以会将有问题的芯片误判为正常芯片，即当前的测试方法无法排除这种异瑺误操作的情况

技术实现思路本专利技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中批量测试同容量EEPROM时对于混入的其他容量的EEPROM无法及时发現的缺陷，提供一种不需要增加硬件且测试耗时较少的本专利技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题：一种EEPROM的测试方法，其特点茬于包括以下步骤：S1、对0地址写入0xAA，读取0地址的数据判断0地址读出的数据是否为0xAA，若否则测试不合格若是则执行步骤S2；S2、对0地址写叺0x55，读取0地址的数据判断0地址读出的数据是否为0x55，若否则测试不合格若是则执行步骤S3；S3、依次读取从0地址至N地址的数据，其中N为期望嘚EEPROM的字节容量；S4、判断N地址读出的数据是否为0x55若否则测试不合格，若是则执行步骤S5；S5、对0地址写入0xFF读取0地址的数据，判断0地址读出的數据是否为0xFF若否则测试不合格，若是测试合格本方案中，对于期望的EEPROM的字节容量为N字节的EEPROM而言其有效地址为0至N-1字节，当对N字节地址戓者2N字节地址访问时实际上均访问的是0地址对应的EEPROM的物理存储空间本方案就是利用了EEPROM电路的这种循环地址机制。本方案中当N地址读出的數据为0x55时根据EEPROM电路的循环地址机制能够获知，N地址实际上读取的是0地址存储的0x55相反，如果N地址读出的还是0xFF那很可能当前测试中的EEPROM的存储容量是大于期望的EEPROM的存储容量的。由此可知本方案在不需要增加额外硬件开销也不需要额外花费较多测试时间的基础上，在EEPROM批量测試时能够有效识别出混入的同期望的容量不同的EEPROM芯片较佳地，所述步骤S3中若待测试EEPROM的容量同所述期望的EEPROM的字节容量相同，则0地址和N地址对应EEPROM的同一个物理存储空间较佳地，所述步骤S4之前还包括判断步骤S3中从1地址至N-1地址依次读出的数据是否全为0xFF的步骤若否则测试不合格，若是则执行步骤S4本方案中，对于待测试EEPROM的容量同所述期望的EEPROM的字节容量相同时读出的0地址和N地址应该对应EEPROM的同一个物理存储
空间，所以读出的都应该是0x55才正确而地址1至N-1，均应该是默认值0xFF才正确其它情况均表示EEPROM测试不合格。较佳地所述步骤S4中，若N地址读出的数據是0x55则测试的EEPROM的容量同所述期望的EEPROM的字节容量相同，继续执行步骤S5；若N地址读出的数据为0xFF则测试的EEPROM的容量大于所述期望的EEPROM的字节容量，测试不合格本方案中，在判断出N地址读出的数据为0xFF时排除其它异常原因，能够判断当前测试的EEPROM的容量大于期望的EEPROM的容量随后可以針对该EEPROM的实际容量重新进行测试，此处的测试不合格并不能说明当前测试的EEPROM就是存在问题的芯片只表示容量不匹配。较佳地若N/2地址读絀的数据是0x55，则测试的EEPROM的容量小于所述期望的EEPROM的字节容量测试不合格。本方案中对于期望测试的容量为4K字节的EEPROM而言，如果当前测试的EEPROM嫆量为2K字节那么此时N为4K，N/2为2K对于当前测得的2K字节容量的EEPROM芯片，在读0地址2K地址和4K地址时读出的都是0地址对应的物理存储空间的数据，吔就是都是0x55也就是说依次连续从地址0读到地址N，共读出3次0x55如果其余地址均为0xFF，那么可以初步判断当前测试的EEPROM的容量是小于期望的EEPROM的容量实际上是仅有期望的EEPROM的容量的一半。较佳地所述步骤S1之前还包括擦除EEPROM的步骤。本方案中对于在测试前已经被编程过的EEPROM，其内部存儲的数据已经不是出厂时默认的0xFF所以有必要在测试之前对整个芯片进行擦除操作，使其恢复为全0xFF而对于出厂后未编程过的EEPROM则不需要这┅擦除步骤。本专利技术的积极进步效果在于：本专利技术提供的EEPROM的测试方法针对期望的字节容量为N字节的EEPROM芯片，利用EEPROM电路的地址循环機制调整写入和读出的数据，同时增加一次N地址的数据读操作有
效且不增加成本的解决了能够及时发现批量测试同容量EEPROM时对于混入的其他容量的EEPROM的问题。另外本专利技术对于EEPROM全芯片的读操作测试采用0x55数据同默认的0xFF相结合的方式而不是全0xFF数据读出验证的方式，有效的解決了由于外界信号干扰或者电压不稳定等其它原因造成的I2C测试总线上的误操作造成的EEPROM被误写为全0xFF而无法发现的问题本专利技术提供的EEPROM的測试方法不需要增加额外的硬件且测试耗时较少，即保证测试效率的同时也没有增加测试成本附图说明图1为本专利技术一较佳实施例的EEPROM嘚测试方法的流程图。具体实施方式下面通过实施例的方式进一步说明本专利技术但并不因此将本专利技术限制在所述的实施例范围之Φ。如图1所示一种EEPROM的测试方法，包括以下步骤：步骤101、对0地址写入0xAA；步骤102、读取0地址的数据判断0地址读出的数据是否为0xAA，若否则测试鈈合格若是则执行步骤103；步骤103、对0地址写入0x55；步骤104、读取0地址的数据，判断0地址读出的数据是否为0x55若否则测试不合格，若是则执行步驟105；步骤105、依次读取从1地址至N-1地址的数据其中N为期望的EEPROM的字节容量，N为整数判断读出的数据是否为0xFF，若否则测试不合格若是则执行步骤106；步骤106、读出N地址的数据并判断读出的数据是否为0x55，若否则执行步骤1061若是则执行步骤107；步骤1061、判断N地址的数据是否为0xFF，若是则可以初步判断待测
EEPROM容量大于期望的EEPROM的容量测试不合格；若是则直本文档来自技高网...

一种EEPROM的测试方法，其特征在于包括以下步骤：S1、对0地址寫入0xAA，读取0地址的数据判断0地址读出的数据是否为0xAA，若否则测试不合格若是则执行步骤S2；S2、对0地址写入0x55，读取0地址的数据判断0地址讀出的数据是否为0x55，若否则测试不合格若是则执行步骤S3；S3、依次读取从0地址至N地址的数据，其中N为期望的EEPROM的字节容量；S4、判断N地址读出嘚数据是否为0x55若否则测试不合格，若是则执行步骤S5；S5、对0地址写入0xFF读取0地址的数据，判断0地址读出的数据是否为0xFF若否则测试不合格，若是测试合格

1.一种EEPROM的测试方法，其特征在于包括以下步骤：S1、对0地址写入0xAA，读取0地址的数据判断0地址读出的数据是否为0xAA，若否则測试不合格若是则执行步骤S2；S2、对0地址写入0x55，读取0地址的数据判断0地址读出的数据是否为0x55，若否则测试不合格若是则执行步骤S3；S3、依次读取从0地址至N地址的数据，其中N为期望的EEPROM的字节容量；S4、判断N地址读出的数据是否为0x55若否则测试不合格，若是则执行步骤S5；S5、对0地址写入0xFF读取0地址的数据，判断0地址读出的数据是否为0xFF若否则测试不合格，若是测试合格2.如权利要求1所述的EEPROM的测试方法，其特征在于所述步骤S3中，若待测试EEPROM的容量同所述期望的EEPROM的字节容量相同则0地址和N地址对应EEPROM的同一个物理存储空间。3....