我们做5G天线分析仪测试,要用矢量网络分析仪、矩阵开关,手动测一个天线分析仪需要几小时,有没有软件可以自动测试?

随着来临开始朝更多端口、更集成化、更高复杂度的方向发展。

从器件方面来看2G/3G时代,手机背板基本贴的是单个元器件包括、功放、双工器。到5G时代要求器件的呎寸越来越小,集成化就成了新趋势比如前端模块,就是将天线分析仪开关、、双工器、滤波器等集成在一起

从天线分析仪方面来看,2G时代手机基本使用单端口天线分析仪。到5G时代毫米波频段的引用,使得射频信号空间损耗非常大为了改善这种状况,开始采用MO阵列天线分析仪就会有很多端口。MIMO(Mulple-InputMultiple-Output)指在发射端和接收端分别使用多个发射天线分析仪和接收天线分析仪,使信号通过发射端与接收端的多个天线分析仪传送和接收从而改善通信质量。

图:元器件朝更多端口、更集成化方向发展

同时更多端口、更集成化、更高复杂喥的器件,给带来了诸多挑战在10月17日的测试技术研讨会上,是德科技Application Engineer LiMeng分享了5G时代多端口器件测试存在的问题及解决方案

多端口器件测試面临诸多挑战

1.测试的参数越来越多。比如滤波器测试过去只需测S参数(也就是散射参数,是微波传输中的一个重要参数)现在,因為集成化趋势需要测的可能就是FEMiD,与双工器集成的前段模块除了S参数之外,还需要测增益压缩、三阶交调、噪声系数等

再比如高速互连线测试,如果是一个差分线只需测插损或,而现在随着传输速度增高、通道数增多除了测阻抗、插损之外,还需要测延时、串扰(包括近串、远串等)可见参数急剧增加。

2.测试指标要求高因为多端口测试量很大,所以需要测试效率必须很高如果测试量急剧增哆,而测试效率却跟原来一样的话就需要非常长的时间才能完成整个器件的测试。

3.精度高、系统稳定性好多端口的器件对于测试系统來说,提出了非常高的要求如果希望测试出来的结果精度高,稳定性好就需要测试效率更高的测试系统。

面对多端口器件测试面前市面上有两大比较传统的测试方案,一是用2端口或者4端口网络分析仪多次测量二是基于基于网络分析仪和矩阵的多端口测试系统,其中湔者使用较少后者较为常见,这两大测试方案各有优缺点

用2端口或者4端口网络分析仪多次测量,此方案的优点在于测试方法非常简單,仪表成本低缺点很多,一是测试时间很长Li Meng介绍到,是德科技做过一个实验让对仪表操作非常熟练的工程师,对14端口的器件进行铨参数测试需要50分钟,这对于产线和研发来说耗时太长;二是测试过程非常复杂,用2端口网络分析仪对N端口器件进行测试需要将N个端口器件,两两间都要组合测量即需要测量N(N-1)/2次;三是为了避免串扰,在测量这两个端口参数的时候其他端口还需要连上负载。

基於网络分析仪和开关矩阵的多端口测试系统此方案是用两端口的网络分析仪,测N端口的器件在网络分析仪和器件之间,搭建一个开关矩阵这样就可以将网络分析仪的两个端口通过开关切到N个端口,测试的时候只需把测试座N个端口与被测物连起来。

优点在于可一次連接所有端口,无需改变连接并且对动态范围和精度要求不高的情况,具有较低的成本缺点也很多,一是系统动态范围下降;二是系統精度和稳定性不高;三是测试速度一般加了开关箱之后,测试一个14端口器件需要12分钟虽然相较于方案一来说,时间虽然缩短很多泹是对于研发和产线来说,还是过长

什么是系统动态范围?系统动态范围指的是网络分析仪端口最大输出功率和端口噪底的差系统指標通常在10HzBW(中频带宽)下定义,IFBW每提高10倍动态范围减少10dB。比如若端口最大输出5dBm,燥底为-115dBm则系统动态范围为120dB(1FBW=10Hz),当1FBW=1kHz时动态范围为100dB。

加开关箱之后系统动态范围会受影响。一、开关矩阵内部插损会降低动态范围因为开关箱有插损,比如一个网络分析仪原本可以輸出10dBm的信号,经过开关箱受插损影响之后,到达被测物的功率就会变小不再是10dB;二、开关隔离度会限制系统动态范围;三是为了达到哃样的动态范围,需要设置更小的IFBW(中频带宽)测试速度就会变慢。

加开关箱之后系统温度稳定性和精度不高。首先看温度稳定性對于网络分析仪来说,温度稳定性是一个非常重要的指标什么是温度稳定性?简单点说就是这个时刻测的结果,和两个小时之后测的結果不一样这就是稳定性不好,即存在温漂LiMeng指出,网络分析仪内部是由各种有源器件组成的整套网络分析仪系统在出场的时候,会給一个温度稳定性指标一般这个温度稳定性的温漂非常小,而加开关箱之后温度稳定性的温漂就很明显,即同一个被测物现在测的結果和两个小时之后测的结果相差非常大。再来看系统的精度因为在网分和被测物之间,接入了一段即开关箱,系统原始性能(匹配、方向性)就会变差从而导致精度变差。

虽然开关矩阵的这些误差能够通过校准消除掉但是过程极其复杂,分两种情况如果网分和開关矩阵由同一厂家提供,并支持多端口校准如Keysight PNA+多端口测试座,则校准测量过程较为简单而多数情况下,开关矩阵校准测量复杂、耗時需要编程控制,比如校准时需要切到两个端口校准,保存校准数据再切到下面个端口校准,保存校准数据并且需要重复N(N-1)/2次,測量完成后还需要切到两个端口,调用校准测量再切到下两个端口,调用校准测量

加开关箱之后,对整套系统测试速度有影响上攵提到,只用一个两端口的网分测一个14端口的器件,需要50分钟加开关箱之后,测量速度下降到12分钟虽然时长大幅下降,但是节省下來的并不是系统处理数据的时间而是手动拧动连接的时间。而处理数据的能力其实还是依赖于网分比如两端口的网分,加了一个多端ロ的开关箱但实际上网分的接收通路还是网分的两条通路。

网络分析仪有一个影响测试速度的重要参数叫仪表的扫描次数,Li Meng表示只囿通过网络分析仪增加处理数据能力的接收机,才能提高处理数据的速度比如要处理一个8端口的器件,2端口的网分+开关箱需要56次扫描;4端口的网分+开关箱,需要24次扫描;真正意义8端口网分需要8次扫描,也就是真正意义8端口网分8次扫描就可以把所有的参数取下来。

可見加开关箱之后,虽然硬件的通道数可以达到而这对整套系统的测试精度、温度稳定性、动态范围、测速速度、校准的复杂度等都会帶来不好的影响。

因此对多端口的器件的测试来说,只有具有真正意义的多端口接收机的网络分析仪才能提供最好的系统性能

是德科技多端口网络分析仪

为了适应5G时代,多端口器件的测试需求是德科技于今年5月份推出了最新的网络分析仪M980xA系列,就是一款真正意义的多端口网络分析仪网络分析仪有四个非常重要的参数,动态范围、扫描时间、轨迹噪声和温度稳定性M980xA系列在这四个参数的表现上都非常絀色。

图:是德科技多端口网络分析仪M980xA系列特性

相较于传统测量方案该系列多端口网络分析仪可以帮助客户解决多方面的问:一、简化測试系统,加快对测试系统的重新配置和校准;二、减少测试系统中的部件数量最大限度地减少维护和停机成本;三、简单、方便地自動完成设置,加快测试速度提高测试吞吐量;四、避免使用额外连接和外部开关时所带来的损耗,提高测试精度;五、定制硬件轻松適应未来的测试要求。

并且该款新型网络分析仪包含多种测量应用软件,如自动夹具移除、时域分析、基础脉冲射频测量、标量混频器/測量、增益压缩测量、频谱分析等

图:M980xA系列网络分析仪应用范围

此外,该系列多端口网络分析仪具有很高的自由度和灵活性可以通过將多个测试接口进行连接,实现更多多口的器件测试并且操作界面非常简单,只要点击选择需要使用的部分即可

图:新型多端口网络汾析仪操作界面

相对于4G来说,5G时代在很多方面都发生了变化这些变化意味着相关技术要面临一场全面的革新,比如测试技术5G时代需要哽高综合度和灵活性的测试解决方案,用于应对器件集成化等各方面带来的测试挑战这些挑战同时也成了测试企业赢得市场的重要机会。

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Z本节将详细介绍冷源法噪声系数测量在 P N A - X 系列网络分析仪上独特的实现方法并介绍使用 PNA-X 测量放大器、变频器、平衡 (差分) 器件的噪声系数的方法。) s! \) j9 G  H) h! w" K8 bPNA-X系列网络分析仪 的噪声系数选件扩展了仪器与被测器件单次连接就能完成的测量范围例如,只需通过单次连接就能测量 S 参數、噪声系数、增益和相位压缩、谐波和互调失真 (IMD)PNA-X 噪声系数测量所提供的结果是目前所有噪声系数测量仪器中精度最高的。: X" [& \' @) [+ W" `选件选择2 ~/ m9 q6 T2 e  n现茬有几种选件可使 PNA-X系列网络分析仪 增加噪声系数测量功能选件 029 (用于 0.8 MHz。因为在测试端口 2 上设计了特别的电路所以在用冷源法进行 S 参数、變频增益、噪声功率测量时无需使用机械开关进行切换。当用户为了得到最佳噪声系数而通过多种参数测量对器件进行调谐时或者当

图 13. 配有噪声系数硬件选件的双端口 PNA-XPNA-X噪声系数解决方案还需要一个噪声源 (当使用低噪声接收机时) 和/或一个功率计 (当使用标准接收机或在测量变頻器时),这两个器件仅在校准过程中才会用到要彻底完成经过校正的矢量-源测量,还需使用一个专门用作阻抗调谐器的电子校准件此外,还需要另一个电子校准件或机械校准套件完成对 S 参数测量部分的校准

" K8 Z& [# g: S) B6 G6 ~4 p4 O作为阻抗调谐器使用的电子校准件可以帮助去除不理想系统源匹配所造成的影响,我们在下面将就此做详细的解释这让我们在进行单次连接测量的同时还可以得到很高的精度。选件 029 或 H29 为测试端口 1 仩的激励源环路增加了一个旁路开关这样如果需要的话,在测量压缩特征或 IMD 特征时就可以把作为调谐器使用的电子校准件避开您也可鉯选择标量校准。标量校准的精度较差但速度更快并且不需要将电子校准件用作阻抗调谐器。即便利用完全的矢量-源校正技术PNA-X 噪声系数解决方案的速度也要比 NFA 和频谱分析仪解决方案快很多 (图 14)。鉴于 PNA-X的测量速度极快因此可以使用 PNA-X

我们在之前已经提到,VNA 通过常规的矢量誤差校正技术可以对失配误差进行校正为了校正噪声参数误差,我们必须要对被测器件的噪声参数进行测量进而就需要在被测器件的輸入端口使用阻抗调谐器。在选择阻抗调谐器时可以使用噪声参数测试系统常用的机电式阻抗调谐器,它可以给被测器件提供非常宽的源阻抗范围;或者也可以使用前面提到的电子校准件,它提供在计算 50 Ω 噪声系数时所需要的有限阻抗范围为了更有效地进行第二级噪聲校正,在校准过程中还要对噪声接收机的噪声参数进行测量' ^  e, V1 y- e: x/ u图 15 形象地表达了这个概念。在史密斯圆图中心位置上的方块是我们想要对被测器件的噪声系数进行测量的地方这里对应的是理想的 50 Ω 源阻抗。但正如前文所述我们知道测试系统不能提供理想的 50 Ω 匹配。因此与其假设我们测量的是具有理想源匹配的噪声系数,倒不如有意使用一组非 50 Ω 阻抗 (我们知道这些阻抗的精确值) 来测量噪声系数如图所礻,在每个测量频点上我们给被测器件最少提供 4 个不同的阻抗值在每一个阻抗值上测量从被测器件输出的噪声功率。在校准过程中对这 4 個状态的阻抗值进行测量并在已连接被测器件的情况下进行噪声功率测量。然后把成对的阻抗值/噪声功率值用在噪声参数的公式中 (使用 4 個等式求解 4 个未知变量)因此就可以非常精确地算出在 50 Ω 条件下的噪声系数。所以使用从史密斯圆图上用小圆圈表示的测量结果我们就鈳以精确地计算出与图中心方块相对应的噪声系数。1 G5

图 15. PNA-X 独特的源校正技术的图示正如矢量误差校正能够显著改善 VNA 在 S 参数测量时的源匹配和負载匹配一样源校准方法可以使 PNA-X 的非理想源匹配在噪声系数测量时变得非常出色。在实际测量中在每一个阻抗状态下都会做一次频率掃描,而不是在每个频率点上改变阻抗的状态这就使得整个测量过程变得非常快。当使用 N4690 系列电子校准件时用户可以最多选择 7 个阻抗狀态,通过用更多数据进行超定的方法可以进一步提高测量精度

@借助前面提到的 Monte-Carlo 噪声系数不确定度计算器,图 16 是在自动测试环境中分别鼡 PNA-X 源校正技术和 Y 因子法 (使用超噪比为 14 dB 的噪声源) 对 LNA

图 16. ATE 环境中的噪声系数不确定性图 17 是把前一个测量结果不确定性实例的各个因素加以分解使用 Y 因子法时,两个最大的误差来源是由不理想的系统源匹配造成的第一大误差源是噪声源非理想匹配和被测器件所产生的噪声交互作鼡所引起的噪声参数效应,第二大误差源是由失配效应引起的注意,当我们在噪声源和被测器件之间插入一个仿真的 ATE 网络时相比失配誤差的影响,噪声参数的影响会变得更大对于使用 PNA-X 的源校正方法,最大的误差源是在校准过程中噪声源的 ENR 不确定性这种不确定性会影響到对 PNA-X 内置噪声接收机进行测量的精度。
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图 17. 在 ATE 环境中得到的噪声系数测量结果不确定性的分解图 18 显示了对未封装的 LNA 进行晶圆上测量从图Φ可以看到,使用 Y 因子法时不能将噪声源直接与放大器连接必须通过电缆和晶圆探头进行连接。用 PNA-X网络分析仪 进行测量的结果不确定性會因为晶圆探头损耗而有所增加当频率超过 24 GHz 时,这种增幅最为明显然而,与 Y 因子法相比PNA-X 测量结果中的不确定性还是很小的。如果在晶圆上装置中增添一个开关矩阵那么 Y 因子法所具有的不确定性会比上面实例中的不确定性还要差,与 PNA-X 只有 0.3 dB 的不确定性相比Y 因子法的不確定性在这里已经达到了 1.1 图 18. 对晶圆上装置的噪声系数不确定性进行比较图 19 把这个晶圆上测量实例的不确定性因素加以分解。再次看到当使用 ATE图 19. 在晶圆上装置中得到的噪声系数测量结果不确定性的分解图 20 是对一个未经封装并且是没有匹配的低噪声晶体管分别用 PNA-X 的源校正方法囷 Y 因子法 (使用 ENR 为 14 dB 的噪声源) 进行测量,并对测 的源校正方法和 Y 因子法 (使用 ENR 为 14 dB 的噪声源) 进行测量并对测量结果进行比较,这是一个真实的 401 点寬带测量这个被测器件的输入匹配很差而很难得到很精确的测量结果。注意使用 PNA-X 进行测量所得到的轨迹相对平滑,而且处在 Y 因子法纹波的中心Y 因子法测量结果中的纹波通常很难看到,这其中有两个原因第一个原因是很多器件都是窄带器件,所以测量带宽通常会太窄洏无法显示固有的纹波在中心频率低于 15 GHz 的窄带测量应用中,使用 Y 因子法测量得到的结果要么是比器件的实际性能好很多要么就是比实際差很多。第二个原因是即便是进行宽带测量,因为 Y 因子法的测量速度极慢所以在测量时只能选择非常少的测量点数,所得到的结果洎然就是欠采样的结果或是完全偏离了被测器件真实性能的假象,图中虚线所示的就是测量点数只有 11 个时的测量结果-这也是 NFA 默认的测量点数把测量点数增加到 401 个,纹波就会很明显PNA-X 提供较低的纹波,具有更高的测量精度因此也能反映出被测器件的真实性能。0 K. 的噪声源重复前面所做的测量我们可以看到,Y 因子法的测量结果纹波变小了但仍然不如 PNA-X的测量结果。
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图 21. 用 PNA-X 和 NFA (使用 ENR 值比较小的噪声源) 测量噪声系数的结果另一种显示测试系统中是否存在源匹配引起的测量误差的方法是用一个空气线来改变呈现在被测器件端口上的源匹配的相位圖 22 显示了放大器自身的噪声系数以及放大器前面有一截空气线时的噪声系数。如果测试系统能够去除不理想的源匹配所造成的影响那么增加一条空气线应当只会给测量结果增加了这条空气线的损耗,空气线的损耗在这里的频率范围内是远小于 0.1 dB 的这种效果可以从下半部分嘚 PNA-X网络分析仪 测量结果中看出来。然而图的上半部显示的是用 NFA 和 ENR 为 14 dB 的噪声源进行测量,我们可以看到空气线的加入使得噪声系数产生了較大的差异 (取决于频率)这些差异的大小甚至超过了理论计算应该得到的值。这种大的变化表明了 Y 因子法的测量结果会受到系统源匹配的鈈良影响正如前面讨论的那样,Y 因子法无法去除不理想的系统源匹配引起的失配和噪声参数效应6 X. v) g& j3 ^: f
图 22. 空气线是显示是否存在源匹配引起嘚误差的一个有效工具图 23 显示了另一个实例,用来说明使用 Y 因子法进行测量时系统不理想的源匹配会在噪声系数测量结果中产生纹波。茬本例中把一条 12 英寸长的柔性电缆接到被测器件的前面,模拟一个使用 ATE 进行测量的环境在使用 Y 因子法时,这条电缆是放在噪声源 (ENR 为 14 dB) 和被测器件之间的然后使用 NFA 内置的损耗补偿表把电缆的标量损耗去掉。在 ATE 系统中通常都会使用 ENR 值比较大的噪声源进行测量这是因为在噪聲源和被测器件之间的损耗会比较大,使用 ENR 值比较小的噪声源进行测量很难得到比较好的测量结果使用 PNA-X 进行测量时,电缆就是测试系统嘚一部分校准平面设置在被测器件的输入和输出端口处。Y 因子法测量结果中的纹波还是很大这表明不理想的源匹配会产生很大的误差。

?到目前为止本应用指南介绍了 PNA-X 网络分析仪是如何在噪声系数测量的过程中通过给被测器件提供四个或更多的阻抗,校正由不理想的源匹配引起的测量结果误差这种校准方法是通过在校准过程中选择 "Vector Noise" 一项来激活的。还有另一种被称为 "Scalar Noise" 的校准选项这种方法操作起来比较簡单,测量速度也快但是不如 "Vector Noise" 的校准方法精确。这种标量校准方法仍然用冷源法进行测量仍然是测量被测器件的增益和输出噪声功率。不过标量噪声校准方法是假设在频率范围内系统源匹配的值为 50 Ω,因此无需使用阻抗调谐器。这种测量方法有两个优点: 第一,它的测量速度很快因为它只需要一次噪声功率扫描就可以完成测量,而不是矢量噪声校准方法所需要的 4 到 7 次噪声功率扫描测量相应地,这种方法的第二个优点就是实现起来成本不是太高因为在测量过程中不需要把一个电子校准件当成阻抗调谐器来使用,这部分成本就可以从測试系统的成本中除掉这种测试方法中的一个需要权衡的弊端是在测量结果中会出现较大的纹波,因此也就不是非常精确出现纹波是洇为由被测器件的噪声参数引起的误差是不可以被去除的。测量结果的误差有多大要取决于系统源匹配的指标有多好以及被测器件对源阻忼变化的敏感度有多高9 比较了矢量噪声校准和标量噪声校准两种测量方法所得到的结果。我们可以看到用矢量校准方法所得到的测量結果的曲线要平滑得多;在标量校准方法所得到的结果中,如果在测试端口电缆的末端增加一个外接衰减器的话也有助于降低测量结果中嘚纹波在本例中,用标量法使用 6 dB 衰减器进行测量所得到的结果与使用矢量法测量所得到的结果非常接近: G9

图 24. 矢量噪声校准法和标量噪声校准法的测量结果比较$ F1 u9 A% n(

对扫描的考虑) Y6 |. e/ ^- {3 |在测量放大器时,除了矢量噪声校准法所需要的 4 到 7 次扫描测量噪声功率之外还需要进行两次传统的 S 參数扫描测量 (正向和反向),以便精确地测量被测放大器的增益因此,在默认进行 4 次阻抗扫描测量的情况下为了计算出噪声系数,分析儀必须要进行 6 次扫描在测量变频器时,所需的最少扫锚次数是 8 次考虑到输入信号的频率和输出信号的频率不一样,所以在测量经过匹配校准的变频增益时就需要用正弦波激励多做两次扫描当使用标量噪声校准法测量放大器的噪声系数时,只需要进行 3 次扫描 (2 次用于测量 S 參数1 次用于测量噪声功率);测量变频器则需要 5 次扫描 (4 次用于测量经过匹配校准的变频增益,1 次用于测量噪声功率)图 25 对比了分别用标量法和矢量法对放大器的噪声系数进行测量时的测量速度,比较了做噪声平均和不做噪声平均以及在不同的轨迹点数的情况下两种方法在测量速度上的差别当进行噪声平均时 (这也是广受推荐的做法),标量法的测量速度大概要快 4

图 25. 标量噪声校准法在测量速度上的改善大概有 4 倍の多如果 PNA-X 中装有低噪声接收机的话 (选件 029 或 H29)使用低噪声接收机进行噪声功率扫描测量 (这时正弦波激励源是关闭的),在进行 S 参数或变频增益測量时则使用分析仪的标准测量接收机 (使用仪器内部的正弦波激励源)。因为测试端口 2 上的外接电路与低噪声接收机搭配使用一旦切换箌噪声系数测量模式,仪器需要在标准接收机和低噪声接收机之间进行切换无需使用额外的机械开关。使用选件

k使用 PNA-X 网络分析仪选件 028需要用 PNA-X 的标准接收机来测量噪声系数计算所需的两种数据-噪声功率和被测器件的增益 (选件 029 和 H29 包括低噪声接收机,允许使用标准接收机进荇噪声系数测量如图 26 所示)。为了使用标准的接收机测量噪声系数同时为了能够得到真正可用的测量结果,必须要能够充分理解并克服茬测量中涉及到增益和滤波的一些实际限制因素这些问题都可以通过选件 029 和 H29 低噪声接收机解决。图 27 显示了低噪声接收机在高频段 (3 GHz 至 26.5 GHz) 的结構图在图中我们可以看到有两个关键模块: 第一个是输入端口上的

图 26. 选件 029/H29 的噪声系数设置界面, 提供噪声接收机或标准接收机进行噪声系数測量的选项

LNA 在提供增益的同时不会添加过多的噪声 (它本身的噪声系数很小),这意味着整个接收机的测量灵敏度会非常好图 28 显示了 PNA-X 配置了選件 029 之后在测试端口 2 上的噪声系数值。LNA 可以测量噪声小而且增益也较低的器件无需使用外部前置放大器。对于被测器件的增益加上噪声系数的值接近 30 dB 的情况上图中的三个输入放大器都会用到。对于被测器件的增益加上噪声系数的值超过 30 dB 的情况在测量中根据需要会把图Φ的第二和第三个放大器切换连接到 15 dB 的衰减器上,这样可以避免接收机产生压缩的情况: x+ p. e" Q&

图 28. 端口 2 的典型噪声系数当使用标准接收机时-这意味着在混频器之前没有 LNA,因此仪器的实际噪声系数可以达到 25 至 45 dB (没有把测试端口上的耦合器损耗计算在内)-输入到接收机的噪声应当至少囷接收机内部噪声是一样大的要想得到一个理想的测量结果,输入噪声应比接收机所产生的噪声大得多如果被测器件的增益加上噪声系数的值小于 30 dB (频率高达 20 GHz) 或者小于 40 dB (频率高达 50 GHz) 或小于 45 dB (频率高达 67 GHz),建议使用外部前置放大器才能满足上面所说的测量条件如图 29 所示,可以非常方便地从前面板的跳线接口把外接的前置放大器接入接收机路径因为前置放大器是在被测器件的后面,因此它的增益不会从测量结果中通过比值的运算去除掉因此,在测量时保持周围环境温度的稳定是极为重要的同时,要保证在前置放大器已经充分预热完毕之后再进荇校准和测量当使用外部前置放大器时,通常还需要在前置放大器的输出端口外接一个滤波器使用标准接收机对一些增益很高的器件 (> 60 dB) 來说是非常适用的,例如一些变频器因为被测器件的高输出噪声功率不会造成接收机产生压缩;但如果用低噪声接收机测量这类器件的話,即便是把仪器内的增益设置到最低的程度也会导致接收机产生压缩的现象。) f+ V4 B3 x8 A( Z+ M(LNA)图 29. 使用标准接收机测量噪声系数的原理图, 第二个端口的耦合器被反向连接, 图中还显示出了外接的前置放大器和滤波器无论是否使用前置放大器在使用标准接收机进行测量时,对大部分的器件峩们都推荐把用于测量噪声系数的测试端口上的耦合器反着接 (如图 30 所示)这样可以去除接收机路径中的耦合器损耗。这样做可以在 1 GHz 的频率鉯上把系统的灵敏度提高 15 dB这一数值远大于在 1 GHz 频率以下的灵敏度-耦合臂在 1 GHz 之下会呈现出高通响应特征 (图 31)。不过把测试端口上的耦合器反接之后虽然不会妨碍测量 S 参数,但是在测量 S12 或 S22 时会降低可用的功率总之,这种连接方法是测量噪声系数时的一种可以接受的权衡取舍辦法
$ }# @% E4 _& |- r 图 30. 把测试端口耦合器反接时的跳线连接方法 (把耦合器的主臂和耦合臂对调)

专用低噪声接收机的另外一个关键部分是置于混频器之前嘚一组滤波器,根据具体的测量频段是用基波混频还是三次谐波混频的情况这些滤波器可以去除在接收机本振基波频率或三次谐波频率附近的噪声。如图 32 所示当使用基波混频时,由于混频过程当中存在着非线性现象因此混频器在内部会产生多余的三次谐波信号 (也会产苼高次谐波信号,但是它们所产生的影响普遍都是很小可以忽略)。如果进入到混频器的噪声的频率是在三次谐波附近它就会和已经与夲振的基波信号混频了的噪声信号一起混频到中频,因为在三次谐波附近的变频效率要比在基波频率上的变频效率小 10 dB所以新增加的噪声楿对来说比较少。如果不加入任何滤波措施这些附加的噪声就会从被测器件出来,导致所测得的噪声系数出现预料之外的增加当分析儀在内部使用三次谐波混频把噪声下变频到中频进行测量时,也会出现同样的问题不过这种情况下在基波频率附近出现的多余噪声要比峩们所需要的在三次谐波附近的噪声大得多,结果就会导致测量结果的误差要比使用基波混频方法的误差大很多这个问题可以使用混频器之前的滤波器加以解决,情况就如同选件

图 32. 当使用标准接收机测量时, 宽带输入噪声会与本振的基波以及内部产生的三次谐波像混频对于 43.5 GHz 囷 50 GHz PNA-X 网络分析仪 而言当频率在 26.5 GHz 以下时,用的是基波混频方法在 26.5 GHz 以上用三次谐波混频方法。图 33 比较了对同一个放大器大噪声系数进行测量嘚结果即放大器在宽带未经滤波时的测量结果和使用中心频率为 41 GHz 的带通滤波器时的测量结果。在不经过滤波的情况下测得的噪声系数茬靠近显示屏幕中间的 26.5 GHz 处有一个很大的跳变,在 41 GHz 附近显示出来的噪声系数值约为 19 dB经过滤波之后再测量,在 41 GHz 附近的噪声系数为 4.5 dB这是正确嘚测量结果。如果器件在其内部就有滤波机制或者本身就是窄带器件的话那么在用标准接收机测量噪声系数时就不需要使用外部滤波器。当在接收机的环路上使用一个前置放大器时通常需要对这个前置放大器的输出进行滤波,除非放大器本身的频率响应就足够窄能够紦不需要的混频信号抑制掉。在测量宽带宽器件时可能需要多个滤波器对感兴趣的频率范围进行操作,在这样的情况下整个频率范围嘚测量工作就需要分成几个频带较窄的范围来分别测量。如果用户想在 10 MHz 至 50 GHz 的频率范围内进行测量我们推荐使用 N5245A 选件 H29。当频率在 26.5 GHz 以下时鈳以使用低噪声接收机,并用其三次谐波抑制滤波器来提高测量精度从 26.5 到 50 GHz 的范围内,可以使用配有高通滤波器、转角频率在 18 至 26.5 GHz 之间的前置放大器在这个频段内制作一个同轴高通滤波器有一个简单的方法,即把两个同轴-波导适配器连接在一起,这是因为波导传输线本身就固有高通响应特征图 33. 使用 50 GHz PNA-X 标准接收机测量经过滤波和不经过滤波的放大器的噪声系数, 并比较测量结果. X,

(推算到共轭匹配负载) 或入射功率 (推算到 50 Ω 负载),可以显示为绝对数值 (dBm归一化为 1 Hz 带宽) 或相对数值 (dB,相对于 -174 dBm)系统噪声功率参数包括噪声接收机产生的附加噪声功率,但昰在测量被测器件的噪声功率参数时会把接收机所产生的部分从测得的噪声功率中减掉PNA-X 还可以直接测量 ENR,在测量 ENR 时PNA-X 在噪声源加电的状態下测量噪声功率随频率变化的情况,然后用测得的热噪声与系统校准时得到的冷噪声来计算 ENR4 h3 m) A4 ]  W; \! @因为测量噪声功率参数时是不能使用矢量噪声校准方法的,因此测量需要两次扫描: 第一次扫描用来测量 S22 (通过去除接收机所产生的噪声来对接收机的噪声参数进行校正以便获得被測器件的噪声功率参数,并计算出可用功率);第二次扫描是噪声功率扫描9 o5 e, A+ J8 B  @% v测量变频器的噪声系数/ ^7 u: F: {5 G& [0 ^使用冷源法测量变频器的优势之一是它對单边带 (SSB) 和双边带 (DSB) 变频器都能正确地进行测量。DSB 变频器比等效的 SSB 变频器会有更多的下变频噪声这是因为 SSB 变频器内部在混频器的前面没有使用镜像滤波器,如图 34 所示这意味着在频点 (LO + IF) 和 (LO – IF) 上的噪声会变频到 IF 上。两个边带所产生的噪声有可能不一样大因为它们依赖于变频器湔端混频级之前电路的频率响应特征。如果前端电路的频率响应在中频的上下偏置范围之间表现得比较平坦那么 DSB 变频器会比 SSB 等效变频器哆产生 3 dB 的噪声。在频率响应不是很平坦的情况下如果等效 SSB 变频器的镜像滤波器位于两个边带中较大的边带附近,那么两种变频器所产生嘚噪声差异会较小;如果等效 SSB 变频器的镜像滤波器位于两个边带中较小的边带附近那么这种噪声的差异就会较大。当使用 Y 因子法时测量两个等效 SSB 变频器和一个 DSB 变频器的噪声系数所得到的结果将会是相同的,这是因为在测量中把噪声功率的测量结果进行了一次比值计算DSB 變频器的额外噪声 (相对于 SSB 变频器而言) 在求比的过程中被抵消掉了。对于大部分 DSB 被测器件使用 NFA 或基于频谱分析仪的解决方案所得到的测量結果通常要比实际的噪声系数值好 (小) 0 到 3 dB,当然有时候误差很可能比这个范围还要大一些因为冷源法只测量一次噪声功率,不存在比值计算问题因此 DSB 和 SSB

g嵌入式本振变频器没有本振或时基信号的接口,这给它们的测量带来了额外的困难嵌入式本振变频器在很多卫星转发器仩都会用到,这是因为在卫星上器件的尺寸和重量都受到限制同时为了防止出现不需要的杂散信号也都需要限制对安装在卫星上的变频器的本振信号的接触。如果接触不到变频器的本振信号或时基信号就会给测量带来麻烦。这种被测器件输出信号的频率并不一定就是它應有的频率因为器件内置本振信号的频率永远都不会就是它的标称值。如果器件内置本振信号的频率偏置比测量变频增益所用的中频带寬还要大那么在测量增益时就会引起非常大的误差。解决办法是调整 接收机的调谐状态这样可以让被测器件输出信号的频率正好落在汾析仪测量变频增益时所选择的中频滤波器的中间。为了让这种测量方法更有效果内置本振信号的频率就必须要相对地稳定一些,这种偠求对于应用在航空航天与国防领域中的卫星转发器和接收机来说基本上都可以满足因为它们的本振信号都是锁定在很稳定而且相位噪聲也很小的晶体振荡器上。  `  [7 A0 v9 p8 xPNA-X网络分析仪 的调谐过程非常简单和直接首先,先把激励源的频率设置到测量的中心频率上然后,PNA-X 进行一次寬带接收机频率扫描扫描的中心设为被测器件的额定输出频率上 (根据额定本振信号的频率计算出来的)。根据实际信号的频率峰值和理论信号的频率之差我们可以确定适用于调整 PNA-X 接收机调谐过程的频偏值。内部接收机扫描的频率跨度也可以由用户设定最大可以设置为 10 放夶器的噪声系数是比较简单的。为了得到一个真正差分模式的噪声信号需要在被测器件的输入端口上连接一个平衡-不平衡变换器或 0°/180° 混合电路。对于完全都是平衡结构的器件还需要在被测器件的输出端连接一个平衡-不平衡变换器或混合电路,如图 35 所示混合电路是非瑺有用的元件,通过利用它的求和/∑ (0°)和求差/? (180°) 端口来测量差分模式和共模模式的噪声系数当测量晶圆上的器件时,测试探头连接到平衡-不平衡变换器或混合电路的差分 (或共模) 模式一侧进行差分或共模测量的过程可以简要归纳为以下三个步骤:& S1 Z- R: L'       在单端测试端口和被测器件嘚差分端口之间插入经过表征的平衡-不平衡变换器或混合电路 (如果需要还会插入探头)- e6 h1 N%

图 35. 测量平衡放大器或变频器时需要使用平衡-不平衡变换器或混合电路表征平衡-不平衡变换器或混合电路的特征' i+ z/ ?: r, D* ]% n

虽然平衡-不平衡变换器或混合电路本身作为一个三端口器件具有 9 个单端戓混合模式的参数,但是为了进行去嵌入处理我们必须要把它们当成具有 4 个参数的双端口器件来处理,做到这一点只需要忽略与多余模式相关的参数即可例如,对于平衡-不平衡变换器来说只有 4 个单端-差分模式参数是重要的,而其余 5 个共模和混合模式参数可以忽略洳果用户还想用混合电路测量共模模式的噪声系数,那么除了要用到 4 个单端-差分模式参数之外另外 4 个单端-共模模式参数也会用到。$ p; O2 N( L* r2 E2 @; y在測量被测器件之前必须用手动方式生成差分或共模的 .s2p 文件,用于对平衡-不平衡变换器或混合电路进行去嵌入平衡-不平衡变换器或混合电路是作为单端三端口器件来测量的,PNA-X网络分析仪 会从它们的单端数据中计算出差分或共模性能这个操作过程的第一步是先对 PNA-X 做三端口校准,接下来给平衡-不平衡变换器或混合电路连接上互连电缆 (如果需要的话还会连接探头)使用四条轨迹设置并测量指定的混合模式参数 (图 36)。平衡-不平衡变换器或或混合电路 (在测量中它们既可以连接在被测器件的输入端也可以连接在输出端) 的单端输入端口应与 PNA-X 的端ロ 1 连接这是因为当使用去嵌入功能时,仪器的夹具特性会认为被去嵌入的元件 (即平衡-不平衡变换器或或混合电路) 的端口 2 是与被测器件嘚输入端口或输出端口连接当使用混合电路时,在差分模式测量时应在 S 端口上连接一个 50 Ω 端接负载在共模模式测量时应在 ? 端口上连接┅个 50 Ω 端接负载。如果需要对两种模式都进行表征特征数据必须要分成不同的数据文件进行保存。一旦适当的差分或共模数据被测量之後它们的数据就被保存成 .s2p 文件 [操作步骤是点击 File,接着选择 Save Data As…Trace (*.s2p)]。PNA-X 会提醒用户需要用到的端口-对于差分模式的数据选择

O  o到目前为止我們所讨论的 PNA-X网络分析仪解决方案都是关于测量 50 Ω 噪声系数。然而LNA 的设计人员为了设计最佳匹配电路,往往需要测量未经匹配的高反射晶體管的噪声系数与源阻抗之间的关系这种类型的表征就产生了对噪声参数的需要。一个完整的噪声参数分析过程需要在被测器件的输入端附近放置一个调谐器用于提供宽范围的源阻抗。Maury Microwave 公司最近新开发了一种基于 PNA-X 的噪声参数测试系统这个新系统与过去的系统相比,测量速度更快而且精度也更高并且,新系统比以前基于独立 VNA 和噪声系数分析仪的系统设置起来更容易由于这个系统采用了更为先进的测量算法,因此在保证测量精度明显提高的同时测量速度也比以前快了 100 倍。图 37 显示了采用新的测量方法之后得到的测试曲线更平滑了,測量精度也明显提高Maury Microwave 公司基于

图 37. 与过去的系统相比, Maury Microwave 公司基于 PNA-X 的噪声参数系统的测量精度和速度都显著提高从使用者的角度来看进行噪声校准要相对简单一些,在最简单的情况下测量放大器只由 3 个校准步骤组成,测量变频器则只由 4 个校准步骤组成校准时需要使用仪器内蔀的正弦波激励源,一个噪声源和/或一个功率计一个直通连接以及 S 参数校准标准件 (电子校准件或机械校准件)。与简单的 S 参数校准相比噪声系数校准需要做更多的测量,如果在校准中使用的是机械校准件或是一些需要做去嵌入处理的适配器,那么要进行的测量步骤会更哆$ |! S3 J!

在测量矢量校准放大器的噪声系数时所用到的校准步骤,仪器内部装有低噪声接收机使用了两个电子校准件。整个校准由三个步骤組成第一步,把噪声源连接到测试系统的第二个端口测量噪声源在冷、热两种状态下的噪声功率,与此同时还测量了噪声源相对应的匹配第二步,把一个直通校准件连接在测试端口 1 和端口 2 之间这个步骤中要测量的是噪声接收机在三种不同的增益设置状态下其增益的差别,同时还测量相对应的负载匹配因为在校准过程中这三个增益设置状态都进行了测试,因此在测量过程中如果出现过载就可以改变增益的设置同样在第二步中,被用作阻抗调谐器的电子校准件的反射系数 (即源阻抗) 的也得到了测量在第三步中,需要使用另一个电子校准件或适当的机械校准套件来收集常规 S 参数误差项数据如果电子校准件上的连接器与被测器件的连接器完全匹配,那么第三步就只是佷简单的一次测量如果不匹配 (例如被测器件是阴头-阴头连接器,而电子校准件是阳头-阴头连接器)则在第三步需要测量两次。. \+ R, m5 F,

图 38. 使用低噪声接收机测量噪声系数和电子校准件校准常规 S 参数的矢量噪声校准步骤为了确定接收机的噪声参数在 S 参数测试中用到的电子校准件也鈳以作为阻抗调谐器使用,用于测量在不同源阻抗条件下接收机的噪声功率因为在这个电子校准件和噪声接收机之间的损耗比较小,它被当成接收机的源牵引 (而不是用作阻抗调谐器) 来使用这样可以产生比较高的反射系数,并且更好地对噪声参数进行表征- f7 G# c# }. B% w/ t( u

图 39 显示了用低噪声接收机测量矢量校准放大器、同时用机械校准套件测量 S 参数部分的校准步骤。这个过程和前一幅图中所描述的情形相类似这里主要嘚差别是接收机噪声功率与源匹配的关系是在第二步 (把电子校准件配置成调谐器) 和第三步 (使用机械校准件的开路,短路和负载件) 中测量的在接收机噪声功率的测量结果中增加机械标准件的数据,可以给出更多的数据从而获得更高测量精度的 "超定" 测量办法。+ x0 u6 n2 l' o& V1 Z

z当使用标准接收机而不是低噪声接收机测量噪声系数时校准过程会有两个改变。第一个改变是不需要使用噪声源来表征由接收机所产生的噪声当表征低噪声接收机时,使用一个噪声源可以提供接收机的增益-带宽值这是在计算噪声功率所带来的额外噪声时所必须知道的数据。但是当接收机的噪声系数比噪声源所产生的噪声大得多时——使用网络分析仪的标准接收机测量噪声系数就是这种情况这种方法就行不通了。這个问题可以通过把接收机的增益和带宽分开测量来解决然后再用数学方法计算出增益-带宽值。在测量增益时为了能够对接收机进行校准使之可以精确地测量正弦波信号的功率,需要把一个功率计当做绝对功率参考使用通过窄带频率扫描可以确定中频滤波器的幅度响應,然后再对这个幅度响应进行积分就可以计算接收机的有效噪声带宽也就完成了接收机的噪声带宽测量。因为在测量噪声功率时使用叻零中频混频所以在校准过程中会在仪器的显示屏上出现双峰值的响应特征,如图

图 40. 在校准过程中测量标准接收机的有效噪声带宽当使鼡标准接收机测量噪声系数时校准过程中的第二个变化是只需要进行一次增益测量即可,因为标准接收机内部的混频器之前没有可切换嘚放大器5 Q' F2 i  C' ^( s8 r1 p+

标量噪声校准技术1 e4 i1 y. ~: \' L当进行标量噪声校准时,因为经过标量校准的测量是在假设有一个理想的 50 Ω 源匹配的条件下进行所以对当荿阻抗调谐器使用的电子校准件的阻抗状态测量就被忽略了。然而为了在第二级噪声校正的过程中可以做得更为精确,用于测量噪声功率的接收机源牵引测量仍然会执行如果是使用电子校准件对 S 参数测量进行校准,那么这个电子校准件也可以用于源牵引测量如果测量 S 參数使用的是机械校准套件,那么机械校准套件的开路标准件、短路标准件和负载标准件也能够用于源牵引测量为了求解测量接收机的噪声参数至少需要知道 4 种阻抗状态的测量结果,因此在做直通校准时也多做了一步测量把测试系统原始的源匹配当作额外的阻抗标准来使用。源匹配原始数据的复数值是 S E当测量变频器时在校准过程的开始阶段还要额外增加一步操作,把一个功率计连接在测试端口 1 上这┅步操作是对激励源的功率进行校准,调节源功率随频率的变化这个经过校准的功率随后会用在对标准接收机的校准上,使之能够进行絕对功率测量这对于测量变频器的变频增益 (或损耗) m使用低噪声接收机用矢量校准的方法进行晶圆上测量时,有两种方法进行校准因为噪声源的同轴连接器不能连接到晶圆探头端上,这两种校准方法都无法让噪声源处在被测器件的测量平面上在下面的两个实例中,我们會介绍在校准过程中如何连接噪声源;在使用标准接收机和同轴功率计进行晶圆上测量或通过连接一个功率计进行变频器测量时,可以采用同轴校准和晶圆上校准这两种方法的组合, 上,在噪声表征完成之后进行第二步操作在适配器平面上进行 1 端口校准,这样就建立了┅个噪声校准的基准面第三步是把 PNA-X 的端口 2 和晶圆探头用电缆连接起来,让阴头-阴头适配器保持在原位在完成了晶圆上双端口校准之后,使用嵌入算法 (在后面会提到) 就可以用数学方法把噪声校准基准面延伸到双端口校准平面上这种校准方法可以把噪声源和测试端口 2 之间嘚损耗降至最低,因此可以获得 PNA-X 内部低噪声接收机的最佳校准结果% ?- ]! w3 j0 p- k

41. 晶圆上噪声校准。实例 1: 直接把噪声源连接到 PNA-X 的前面板上在图 42 的实例中噪声源连接在用于把晶圆探头和分析仪相连接的电缆的一端,而不是直接与分析仪的测试端口 2 相连这种连接方法对于在测量当中摆放 PNA-X 嘚位置来说是很方便的,特别是在进行晶圆上测量时PNA-X 通常安装在测试机架里,放在晶圆探头台的后面这让用户很难接触到 PNA-X。在这种连接方式中仍然需要使用一个阴头-阴头适配器把噪声源与测试系统进行连接,并且在完成了噪声参数表征之后对阴头-阴头适配器进行单端口校准,这样就能建立一个噪声校准基准面与前面实例中介绍的适配器在完成单端口校准后保留在原位不同,此时必须要把适配器移除才能把电缆与晶圆探头相连接然而,即便是已经移除了这个阴头-阴头适配器嵌入算法仍然能够把噪声校准基准面延伸到双端口校准基准面上。
$ ?. S6 i! J+ x/ Q3 z8 B 图 42. 晶圆上噪声校准实例 2: 把噪声源连接到同轴测试电缆的一端噪声校准平面的推移

0 C! Z8 k9 b* g/ Q1 M8 c* B, l为了更好地理解前面两个校准方法实例,特別是为什么在移除阴头-阴头适配器的情况下还能够把噪声校准平面延伸到晶圆探头端上我们在这里探讨一下如何把校准平面从一个平面迻到另一个平面。以图 43 为例Cal 1 是在使用阴头-阴头适配器 ([TA]) 的条件下进行的,Cal 2 是在使用晶圆探头 ([TB]) 的条件下进行的对 Cal 2 来说,晶圆探头也是另一種形式的适配器注意,无论是哪种情况测试电缆和 VNA 的特征 [Tsys] 都是一致的,它是测试端口电缆和 VNA 的 T 参数组合我们在这里使用从 S 参数推导絀的 T 参数,因为在计算级联网络时能够非常简单例如,两个级联 T 参数网络可以很容易地相乘& g6 i' G9 u, x! o& ]: j0 U为了从校准平面 1 (Cal 1) 推移到校准平面 2 (Cal 2),我们需偠计算一个虚拟适配器的 T 参数记为 [T?]。这个虚拟适配器可以表示为:7 ~" \*

E当设置噪声系数测量时需要知道测试系统的环境温度以便计算出正确嘚输入噪声功率。在 "噪声系数设置" 对话框 (图 26) 中输入的温度值应表示所有从校准平面到 PNA-X 方向上的元器件的平均温度包括在仪器测试端口后媔的元器件的温度。一个测试开始时非常适用的值就是环境温度通常是 298 K,也可以使用一个精密温度计来测量这个温度虽然电子校准件嘚内部温度被加热到 304 K,但是电子校准件和被测器件之间的损耗一般会抵消器件温度超过环境温度所带来的影响仪器工作时也可能会产生┅些加热的效果,因此 299 K 或 300 K 是比较准确的估计值注意,把温度设为 298 K 和设为 300 K 的区别大概只有 0.7%这相当于在噪声系数测量结果中只有 0.03 dB 的差异。, m- G' o/ ~0 A" N* z0 o茬使用噪声源进行校准的过程中在校准向导界面上有一个输入对话框,您可以在这里指定噪声源的实际温度由于噪声源始终是在加电嘚状态下与 PNA-X 测量噪声系数时,噪声平均是一个重要的测量条件当在测量过程中不使用噪声平均时 (等同于把求平均值操作次数设为 1),为了估算噪声接收机能够测量到的平均噪声功率在每一次噪声功率测量中,仪器内部仍然有很多的模数转换 (ADC) 样本ADC 样本的数量是任意的,PNA-X 在鼡低噪声接收机时大约会使用 1 万个样本当启用噪声平均功能时,仪器需要处理的数据就是用平均值乘以 ADC 采样数这样通过降低在测量结果轨迹上的抖动来给出更好的平均噪声功率估算值,但是代价是牺牲一定的测量速度在校准期间我们极为推荐使用噪声平均功能:使用低噪声接收机时把求平均值操作次数设为 10 至 20 次,使用标准接收机时把操作次数设为 50 至 100 次这样可以得到非常纯净的校准结果。在对被测器件进行测量时可以把噪声平均操作的次数值设置得略低一些,以便在测量速度和精度之间取得平衡通常被测器件的增益越高,在测量時需要做噪声平均操作的必要性就越低但是如果在校准过程中不启用噪声平均功能,那么即便是稍后启用这项功能也无法再去除校准期间存在的噪声。* |2 Y3 }# v& k/ W2 C当用标准接收机测量噪声系数时只有两个噪声带宽可供选择-720 kHz 和 1.2 MHz,这与使用低噪声接受机进行测量不一样后者有 5 种設置可供选择,频率覆盖从 0.8 到 24 MHz 显示了使用低噪声接收机对一个 PNA-X 直通件的噪声系数进行测量在默认噪声带宽为 4 MHz 的情况下分别用 4 种不同的噪聲平均操作次数值所得到的结果比较。用冷源法进行这种测量是非常困难的因为被测器件是个直通件,它不能产生增益也不能产生过多嘚噪声这样就不能给噪声接收机输入一个超噪声,这也意味着第二级噪声校正算法是用相同的平均功率减去两个噪声比较大的信号当 PNA-X 鈈启用噪声平均功能时,噪声系数测量的速度非常快测得的平均值也是预期的 0 dB,但抖动 (轨迹噪声) 是相当高的把噪声平均操作的次数增加到 10 次就会使抖动明显地降低,测量精度也相应有很大的改善如果把平均的次数提高到 20 次,效果甚至更明显相比之下,进行 40 次平均所取得的改善就不是特别明显了因此使用低噪声接收机进行测量时,取 10 到 20 次的平均操作可以实现测量速度和精度之间的良好平衡特别是茬噪声系数校准的过程中,这种程度的平均操作是非常必要的 (当使用标准接收机时取平均的次数要增加到 50 到 100 次)。需要注意的是如果用哃样的平均次数测量有增益的器件的噪声系数,所得到的结果中的抖动会比测量直通件时的抖动小得多& b7 i/ F.

图 44. 测量一个直通件的噪声系数, 用鈈同的噪声平均次数值图 45 是分别用 NFA (Y 因子法) 和 PNA-X (使用冷源法和低噪声接收机) 对同一个直通件进行噪声系数测量,在测量时间大概相等的情况下對测量结果进行了比较PNA-X 的 20 次噪声平均可以得到近似于 NFA 的积分时间。从测量结果中可以看到两种测量结果的抖动是大致相同的。但是 PNA-X 的岼均值要比 NFA 更接近预期的值 0 dB这是因为 PNA-X 能够更精确地测量被测器件的增益 (在本例中被测器件的增益为 0
图 45. 使用 PNA-X 的低噪声接收机和 NFA 分别测量直通件的噪声系数测量一个放大器的噪声系数,

图 46 显示了使用低噪声接收机对一个增益在 15 至 20 dB 的放大器进行三次噪声系数测量,分别用不同的噪聲平均次数请注意在这个实例中,仪器的刻度是每格 0.2 dB而在上一个测量直通件的实例中,仪器的刻度是每格 2 dB当取 10 到 20

图 46. 使用低噪声接收機并用不同的噪声平均次数来测量一个放大器的噪声系数测量低增益或大损耗器件

7 i$ a2 W6 ~! J8 v/ V1 ZPNA-X 网络分析仪测量低噪声系数和低增益器件的能力非常强。为说明这一点图 47 显示了对一个没有增益和超噪声的器件 (40 dB 衰减器) 进行噪声系数测量。如果用 Y 因子法测量这个器件的噪声系数将是非常困難的因为噪声源在冷热状态下的差异会被衰减器衰减为一个极小的值。这个例子只是为了证明冷源法的有效性在实际工作中不需要测量衰减器的噪声系数,因为衰减器的噪声系数始终等于它的损耗值注意,下图中对数格式的噪声系数是 S21 的镜像这表明测量结果是正确嘚,因为衰减器的噪声系数始终为正值且 S21 的对数幅度总是负值S21 和噪声系数测量结果之间的基准电平是彼此的负数值,这样我们就可以把兩条测量轨迹放在一起进行比较同时,为了使抖动达到一个可以接受的水平在测量时做了 50 次噪声平均。3 S  [+ N1 a: Y! i6 b

J因为噪声系数测量通常是针对高增益放大器或变频器所以在噪声系数测量的过程中,进行 S 参数或变频增益测量时的端口功率都比较低可以做两件事情来改善受到端ロ功率影响的测量精度。第一个是断开端口之间功率的耦合关系把 PNA-X网络分析仪和被测器件输出端口相连接的那个端口上的功率设置得高┅些,这是因为精确地测量被测器件的 S22 对第二级噪声校正是有必要的因此需要把端口的功率电平设置得高一些,以确保进行反射测量时嘚到良好的 SNR对大部分器件来说,即便是输入功率必须很低时反向功率仍然可以设置得相当高而不会导致任何损坏。通常在测量噪声系数而对被测器件进行正向驱动时,反向端口的功率设置成比被测器件的输出功率小 5 dB! a; {7 q( j/ j, B第二个是在校准过程中提高端口 1 的功率,然后对被測器件进行测量时再把这个功率降低这意味着要把端口 1 的源衰减器设置得尽可能小,但同时还要保证端口功率可以下降到测量所需要的沝平使用比较小的衰减值意味着在校准过程中可以把端口功率设置得更高,给出更好的 SNR 从而减少轨迹噪声+ t: `- F  i0 y在使用标准接收机和外接前置放大器测量噪声系数时,设置测量和校准时的功率电平必须把前置放大器增益考虑在内以避免测量接收机被压缩。如果把测试端口上嘚耦合器反接那么与常规配置相比,发送给接收机的功率至少要高 15 U当测量一个变频器的噪声系数或用标准接收机测量噪声系数时在校准过程中需要使用功率传感器对 PNA-X网络分析仪 接收机进行校准。图 48 显示了在校准过程中可以单独设置所用到的功率电平与 S 参数校准和测量時的通道功率无关。为了获得最高的测量精度功率传感器的功率电平应当与进行校准时的功率电平一致-通常是 0 dBm,这样会把功率传感器嘚线性度误差从总体测量不确定性中去除PNA-X 接收机的线性度要比功率传感器的还要明显,因此接收机可以在较高的功率上进行校准即便昰用较低的功率进行测量也能够保证极高的测量精度。根据源衰减的值以及测量频率范围的不同在校准过程中可能难以达到 0 dBm。在这种情況下只要保证不要让激励源到了无法进行自动电平控制的地步,应该把功率设置得尽可能地高% ?% Z# T* `1 m9 V) Z2 K* p4 G, k  J当测量增益特别大的器件而需要把源衰減的值设置得很大时 (或者是为了把测量功率设置得足够低来避免被测器件被压缩),最大可用功率可能低于功率传感器的测量范围这会导致功率校准失败。在这种情况下可以把源衰减器的值设置得小一点,这样在校准时就会有更大的功率而在测量噪声系数时可以把一个外部衰减器接到被测器件的输入端。这个衰减器对噪声系数测量结果的影响可以通过把它的 S 参数进行去嵌入而消除S

图 48. 当使用功率计进行校准时, 功率电平可以独立于通道功率进行优化: |7 S( J7 \2

~就像 S 参数测量一样,在测量噪声系数时确保噪声接收机不被压缩也是很重要的在使用 PNA-X网络汾析仪 的低噪声接收机时更要注意这一点,因为低噪声接收机的增益要比标准接收机的增益高得多在考虑噪声测量中的压缩时,必须要紦被测器件的增益和带宽两个因素都考虑进去当被测器件的增益或带宽提高时,输出的噪声功率也跟着提高当用低噪声接收机测量宽帶器件时,前端放大器最有可能先产生压缩;当测量窄带器件时接收机后端的模数转换器 (ADC) 很可能在前端产生压缩之前就已经超过了其工莋范围。 PNA-X网络分析仪 的低噪声接收机在前端有几个用来检测压缩的二极管检波器如果仪器的前端产生过载或者 ADC 超出了工作范围,仪器固囮软件就会产生一个告警信息如果告警信息在测量过程中只是闪现了一下,这可能是由干扰造成的 (参见下一节内容)如果告警信息一直存在,那么噪声接收机或被测器件的增益就必须降低注意,在校准之后改变接收机的增益值不会使测量结果无效这是因为在校准过程Φ接收机的全部三个增益设置都已经过了测量。如果接收机的增益设置已经很小了那么可以有两种选择来解决问题:在被测器件的输出端口连接一个衰减器 (这不会影响被测器件的噪声系数测量) 或者改用标准接收机进行测量。如果使用了衰减器它的影响可以用去嵌入的方法去除掉,这样测得的被测器件 S21 就是正确的使用标准接收机时,由于它没有前端放大器因此噪声所产生的压缩不会引起问题。然而洳果把测试端口上的耦合器反接,那么与标准配置相比发送给接收机的功率至少提高 15 dB,因此在进行 S 参数测量时仍然要谨慎地避免接收机壓缩! X+ L; W8 a6 C6 s' V在测量混频器或变频器时,被测器件的输出端口需要进行额外的过滤以消除本振馈通或其他杂散信号的影响,否则也有可能造成壓缩现象4 O' j' O" F# s/ C1 ^噪声系数不确定性计算器是检查压缩现象的一个实用工具。它从噪声系数的测量结果中读取数据并且显示测得的噪声功率距離接收机的本底噪声有多远以及产生压缩的量,如图 49

图 49. Keysight PNA-X 噪声系数不确定度计算器显示了被测器件的噪声功率是否导致噪声接收机产生压缩當使用低噪声接收机时PNA-X网络分析仪 的端口 2 的损坏电平会从 +30 dBm 下降到 +25 dBm。这种损坏电平的降低是由噪声接收机内部的 LNA 造成的它比标准接收机Φ的混频器对测量信号更敏感。

t当测量没有屏蔽的被测器件的噪声系数时例如印刷电路板上的放大器,来自蜂窝电话/ 移动手机、无线局域网路由器或客户端、其他无线电信号的电磁干扰经常会影响到被测器件的测量结果这些干扰表现出来的特征是测量结果中出现非重复性的尖峰值,如图 50 所示通常这种干扰只会对同一个频率上的噪声测量结果带来不利影响。然而如果干扰过大并且一直出现,它会导致噪声接收机产生压缩现象从而会使测量结果不准确。如果出现这种情况解决办法之一是尽可能地把PNA-X网络分析仪 内部接收机的增益降低。当然最好的方法还是在一个屏蔽比较好的环境内 (例如在屏蔽室中)

图 50. 电磁干扰对噪声系数测量的影响通常表现为测量轨迹上出现大的尖峰
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随着5G来临元器件开始朝更多端ロ、更集成化、更高复杂度的方向发展。

从器件方面来看2G/3G时代,手机背板基本贴的是单个元器件包括滤波器、功放、双工器。到5G时代要求器件的尺寸越来越小,集成化就成了新趋势比如射频前端模块,就是将天线分析仪开关、放大器、双工器、滤波器等集成在一起

从天线分析仪方面来看,2G时代手机基本使用单端口天线分析仪。到5G时代毫米波频段的引用,使得射频信号空间损耗非常大为了改善这种状况,开始采用MIMO阵列天线分析仪就会有很多端口。MIMO(Multiple-InputMultiple-Output)指在发射端和接收端分别使用多个发射天线分析仪和接收天线分析仪,使信号通过发射端与接收端的多个天线分析仪传送和接收从而改善通信质量。

图:元器件朝更多端口、更集成化方向发展

同时更多端ロ、更集成化、更高复杂度的器件,给测试带来了诸多挑战在10月17日的是德科技测试技术研讨会上,是德科技Application Engineer LiMeng分享了5G时代多端口器件测试存在的问题及解决方案

多端口器件测试面临诸多挑战

1.测试的参数越来越多。比如滤波器测试过去只需测S参数(也就是散射参数,是微波传输中的一个重要参数)现在,因为集成化趋势需要测的可能就是FEMiD,与双工器集成的前段模块除了S参数之外,还需要测增益压缩、三阶交调、噪声系数等

再比如高速互连线测试,如果是一个差分线只需测插损或阻抗,而现在随着传输速度增高、通道数增多除叻测阻抗、插损之外,还需要测延时、串扰(包括近串、远串等)可见测量参数急剧增加。

2.测试指标要求高因为多端口测试量很大,所以需要测试效率必须很高如果测试量急剧增多,而测试效率却跟原来一样的话就需要非常长的时间才能完成整个器件的测试。

3.精度高、系统稳定性好多端口的器件对于测试系统来说,提出了非常高的要求如果希望测试出来的结果精度高,稳定性好就需要测试效率更高的测试系统。

面对多端口器件测试面前市面上有两大比较传统的测试方案,一是用2端口或者4端口网络分析仪多次测量二是基于基于网络分析仪和开关矩阵的多端口测试系统,其中前者使用较少后者较为常见,这两大测试方案各有优缺点

用2端口或者4端口网络分析仪多次测量,此方案的优点在于测试方法非常简单,仪表成本低缺点很多,一是测试时间很长Li Meng介绍到,是德科技做过一个实验讓对仪表操作非常熟练的工程师,对14端口的器件进行全参数测试需要50分钟,这对于产线和研发来说耗时太长;二是测试过程非常复杂,用2端口网络分析仪对N端口器件进行测试需要将N个端口器件,两两间都要组合测量即需要测量N(N-1)/2次;三是为了避免串扰,在测量这兩个端口参数的时候其他端口还需要连上负载。

基于网络分析仪和开关矩阵的多端口测试系统此方案是用两端口的网络分析仪,测N端ロ的器件在网络分析仪和器件之间,搭建一个开关矩阵这样就可以将网络分析仪的两个端口通过开关切到N个端口,测试的时候只需紦测试座N个端口与被测物连起来。

优点在于可一次连接所有端口,无需改变连接并且对动态范围和精度要求不高的情况,具有较低的荿本缺点也很多,一是系统动态范围下降;二是系统精度和稳定性不高;三是测试速度一般加了开关箱之后,测试一个14端口器件需要12汾钟虽然相较于方案一来说,时间虽然缩短很多但是对于研发和产线来说,还是过长

什么是系统动态范围?系统动态范围指的是网絡分析仪端口最大输出功率和端口噪底的差系统指标通常在10HzIFBW(中频带宽)下定义,IFBW每提高10倍动态范围减少10dB。比如若端口最大输出5dBm,燥底为-115dBm则系统动态范围为120dB(1FBW=10Hz),当1FBW=1kHz时动态范围为100dB。

加开关箱之后系统动态范围会受影响。一、开关矩阵内部插损会降低动态范围洇为开关箱有插损,比如一个网络分析仪原本可以输出10dBm的信号,经过开关箱受插损影响之后,到达被测物的功率就会变小不再是10dB;②、开关隔离度会限制系统动态范围;三是为了达到同样的动态范围,需要设置更小的IFBW(中频带宽)测试速度就会变慢。

加开关箱之后系统温度稳定性和精度不高。首先看温度稳定性对于网络分析仪来说,温度稳定性是一个非常重要的指标什么是温度稳定性?简单點说就是这个时刻测的结果,和两个小时之后测的结果不一样这就是稳定性不好,即存在温漂LiMeng指出,网络分析仪内部是由各种有源器件组成的整套网络分析仪系统在出场的时候,会给一个温度稳定性指标一般这个温度稳定性的温漂非常小,而加开关箱之后温度穩定性的温漂就很明显,即同一个被测物现在测的结果和两个小时之后测的结果相差非常大。再来看系统的精度因为在网分和被测物の间,接入了一段电路即开关箱,系统原始性能(匹配、方向性)就会变差从而导致精度变差。

虽然开关矩阵的这些误差能够通过校准消除掉但是过程极其复杂,分两种情况如果网分和开关矩阵由同一厂家提供,并支持多端口校准如Keysight PNA+多端口测试座,则校准测量过程较为简单而多数情况下,开关矩阵校准测量复杂、耗时需要编程控制,比如校准时需要切到两个端口校准,保存校准数据再切箌下面个端口校准,保存校准数据并且需要重复N(N-1)/2次,测量完成后还需要切到两个端口,调用校准测量再切到下两个端口,调用校准测量

加开关箱之后,对整套系统测试速度有影响上文提到,只用一个两端口的网分测一个14端口的器件,需要50分钟加开关箱之后,测量速度下降到12分钟虽然时长大幅下降,但是节省下来的并不是系统处理数据的时间而是手动拧动连接的时间。而处理数据的能力其实还是依赖于网分比如两端口的网分,加了一个多端口的开关箱但实际上网分的接收通路还是网分的两条通路。

网络分析仪有一个影响测试速度的重要参数叫仪表的扫描次数,Li Meng表示只有通过网络分析仪增加处理数据能力的接收机,才能提高处理数据的速度比如偠处理一个8端口的器件,2端口的网分+开关箱需要56次扫描;4端口的网分+开关箱,需要24次扫描;真正意义8端口网分需要8次扫描,也就是真囸意义8端口网分8次扫描就可以把所有的参数取下来。

可见加开关箱之后,虽然硬件的通道数可以达到而这对整套系统的测试精度、溫度稳定性、动态范围、测速速度、校准的复杂度等都会带来不好的影响。

因此对多端口的器件的测试来说,只有具有真正意义的多端ロ接收机的网络分析仪才能提供最好的系统性能

是德科技多端口网络分析仪

为了适应5G时代,多端口器件的测试需求是德科技于今年5月份推出了最新的网络分析仪M980xA系列,就是一款真正意义的多端口网络分析仪网络分析仪有四个非常重要的参数,动态范围、扫描时间、轨跡噪声和温度稳定性M980xA系列在这四个参数的表现上都非常出色。

图:是德科技多端口网络分析仪M980xA系列特性

相较于传统测量方案该系列多端口网络分析仪可以帮助客户解决多方面的问:一、简化测试系统,加快对测试系统的重新配置和校准;二、减少测试系统中的部件数量最大限度地减少维护和停机成本;三、简单、方便地自动完成设置,加快测试速度提高测试吞吐量;四、避免使用额外连接和外部开關时所带来的损耗,提高测试精度;五、定制硬件轻松适应未来的测试要求。

并且该款新型网络分析仪包含多种测量应用软件,如自動夹具移除、时域分析、基础脉冲射频测量、标量混频器/变频器测量、增益压缩测量、频谱分析等

图:M980xA系列网络分析仪应用范围

此外,該系列多端口网络分析仪具有很高的自由度和灵活性可以通过将多个测试接口进行连接,实现更多多口的器件测试并且操作界面非常簡单,只要点击选择需要使用的部分即可

图:新型多端口网络分析仪操作界面

相对于4G来说,5G时代在很多方面都发生了变化这些变化意菋着相关技术要面临一场全面的革新,比如测试技术5G时代需要更高综合度和灵活性的测试解决方案,用于应对器件集成化等各方面带来嘚测试挑战这些挑战同时也成了测试企业赢得市场的重要机会。

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