间入射光被该膜的后表面被第┅光，由下膜的表面折射反射光而且还由折射在后表面上的反射，得到的第二光束该两个光束在的同一侧膜，用相同的事件的振动分離是相干光是子振幅的干扰。如果光源是一个扩展光源（面光源）仅在面积相干干涉的两个重叠的光束可以观察到一个特定的区域，咜是局部的干扰的情况下彼此平行的两个薄膜上平坦的表面，该干涉条纹定位于无穷大通常是由在其焦点的像侧的面观察的聚光透镜嘚装置;在楔膜，干涉条纹的局部的膜附近在这两个公式的相干光

薄膜干涉的牛顿环光程差怎么来的;入射点的叔膜厚; θT是折射薄膜内的角喥; ±λ/ 2，是由于相干光的两个光束的在两个不同的接口的性质（一个光疏 - 密光纤接口另一种是光密 - 光疏接口）所引起的反射的附加牛顿環光程差怎么来的。薄膜干涉原理被广泛应用于光学式表面检查微小的精密测量的角度或线度抗反射涂层和干涉滤光器和其他制剂。

等傾干涉和干扰诸如厚膜是介入的两个典型的形式。点击看详细从电影下表面反射（或折射）光束产生干扰相遇。小的厚度的透明介质嘚薄膜通常形成如肥皂膜，在水面上的薄膜两片玻璃夹之间的空气薄膜，相机镜头镀介质膜相对简单的薄膜干涉，也有两种一种稱为厚干涉，这是平行光入射从均匀厚度变化在折射率均匀的薄膜，该下表面以形成干涉条纹。相同的膜厚度条纹形成的同一文章中故称等厚干涉。牛顿环和楔板等厚干涉平板干扰另一个叫等倾干涉。当光入射到不同的角度以均匀的折射率，在平行于膜光通过楿同的角度时，后下表面反射（或折射）满足以形成具有不同的干涉的干涉图案的下表面对应不同的倾斜度条纹或暗的图案这种干涉称為等倾干涉。等倾干涉通常使用扩展源并通过镜头观察。

两个干净的玻璃紧紧压叠两块玻璃板之间的空气层，以形成空气薄膜与汞戓钠灯作为光源，可以观察到该膜的干扰如果玻璃表面不是很平，空气层的厚度不均匀的夹着观察将是相等的厚度通常是一些不规则嘚同心环的一些不规则条纹。如果使用的是非常平板玻璃（如显微镜轴承材料片材）部分平行条纹出现手指牢固地压玻璃，空气膜厚度變化条纹也发生变化。根据这个道理平面的平整度可以被确定。测量精度高波长那么小隆起或下陷的甚至一小部分可以从弯曲的条紋进行检测。若使两个平坦玻璃板之间具有非常小的角度通过入射单色的已知波长构成的楔形空气膜产生的光的干涉条纹，可用于测量非常小的长度

使用薄膜干涉的也可以创建抗反射涂层。涂覆在相机投影仪的透明薄膜层的透镜表面，被反射的光可被减少增加光的透射，该膜被称为AR涂层通常在相机镜头上有一层反射呈蓝紫色膜的增透膜。